Resumen

El microscopio electrónico de barrido (scanning electron microscopy, SEM) es, ampliamente, el más usado de todos los instrumentos que operan con un haz de electrones. Su popularidad se debe a su gran versatilidad y su amplio rango de aplicaciones, que puede ser implementado en un único instrumento. Además, debe destacarse la excelente resolución espacial y la simplicidad de la interpretación de la mayoría de las imágenes, la modesta demanda en la preparación del espécimen, y su uso amigable.

El objetivo del ciclo es difundir las ciencias ambientales y temáticas asociadas hacia la comunidad del instituto, en particular, y la comunidad científica, en general.

María Claudia Marchi

• Títulos Obtenidos

Licenciada en Ciencias Físicas. FCEyN, UBA.

Doctora de la Universidad de Buenos Aires, Área Química. FCEyN-UBA.

• Posición actual

Profesional Adjunto CONICET/Centro de Microscopías Avanzadas (CMA)-FCEyN-UBA.

Docente (JTP) – Dto. Química Inorgánica, Analítica y Química Física (DQIAyQF)-FCEyN-UBA.

• Áreas de interés

Síntesis de óxidos de Si y Ti por la vía sol-gel y por deposición iónica. Síntesis y propiedades de nanopartículas metálicas y semiconductoras (CdS, CdSe, CdTe, ZnO) aplicables en celdas solares. Nanoestructuras de carbono (cebollas, domos y tubos). Caracterización de materiales mediante sondas fotofísicas, microscopia electrónica y espectroscopía fotoelectrónica.

Desarrollo de las técnicas de EDS (energy dispersive spectroscopy), EBSD (electron backscatter diffraction) y NPGS (Nanometer Pattern Generation System) asociadas al microscopio electrónico de barrido Zeiss Supra 40.

3iA, Ciclo de Conferencias 2015, Dra. María Claudia Marchi