Resumen:

El estudio exhaustivo de procesos fisicoquímicos tanto en sistemas reales como en sistemas modelos requiere habitualmente de una caracterización multiescala de los sistemas estudiados con el fin correlacionar estructura y función. La técnica de dispersión de rayos X a bajos ángulos (SAXS) permite la caracterización estructural de la materia en el orden de los nanómetros. Es una técnica no destructiva muy versátil, aplicable a un vasto conjunto de sistemas diversos como proteínas, arcillas, talcos, polímeros, etc. Recientemente ha sido montado en las instalaciones del INIFTA (La Plata) una facilidad SAXS (XENOCS XEUSS) abierta a la comunidad científica y tecnológica. Durante el seminario se describirán aspectos teóricos y prácticos sobre la técnica. Se detallará los alcances experimentales disponibles y se complementará con ejemplos obtenidos en el equipo y bibliográficos de interés para el instituto.

Cristián Huck Iriart

Es licenciado en Ciencias Químicas, FCEyN, UBA y doctor de la Universidad de Buenos Aires, Área Química Inorgánica, Química Analítica y Química Física. FCEyN-UBA.

Posición actual

Posdoctorado INIFTA/CONICET La Plata, Buenos Aires, Argentina.

Docente (JTP) – Área Química, ECyT, UNSAM.

Áreas de interés

Materia blanda, dispersiones coloidales, materiales inorgánicos y superficies. Haciendo énfasis en la caracterización dinámica y estructural de procesos fisicoquímicos en materiales nanoestructurados mediante la interacción de la radiación electromagnética con la materia.

Empleo de fuentes de radiación síncrotron para estudios in-situ de procesos fisicoquímicos.