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Ciclo de Conferencias 3iA: “Microscopía Electrónica de Barrido, principios y aplicaciones”

24 abril, 2015 | 14:00 - 16:00

Resumen: El microscopio electrónico de barrido (scanning electron microscopy, SEM) es, ampliamente, el más usado de todos los instrumentos que operan con un haz de electrones. Su popularidad se debe a su gran versatilidad y su amplio rango de aplicaciones que puede ser implementado en un único instrumento. Además, debe destacarse la excelente resolución espacial y la simplicidad de la interpretación de la mayoría de las imágenes, la modesta demanda en la preparación del espécimen, y su uso amigable.

El objetivo del ciclo es difundir las ciencias ambientales y temáticas asociadas hacia la comunidad del instituto, en particular, y la comunidad científica, en general.

Entrada libre y gratuita.

Consultas: comunicacion3ia@unsam.edu.ar

Detalles

Fecha:
24 abril, 2015
Tiempo:
14:00 - 16:00
Categoría del Evento:

Lugar